兼容式光學(xué)超薄屏下指紋模組功能測(cè)試裝置

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202010290625.1 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)(公告)號(hào) CN111351638A 公開(kāi)(公告)日 2020-06-30
申請(qǐng)公布號(hào) CN111351638A 申請(qǐng)公布日 2020-06-30
分類(lèi)號(hào) G01M11/00(2006.01)I;H04M1/24(2006.01)I 分類(lèi) 測(cè)量;測(cè)試;
發(fā)明人 羅藝;劉自濤;黃昊;姜洪霖 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人 成都費(fèi)恩格爾微電子技術(shù)有限公司
代理機(jī)構(gòu) 成都蓉創(chuàng)智匯知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 譚新民;趙雷
地址 610000四川省成都市中國(guó)(四川)自由貿(mào)易試驗(yàn)區(qū)成都高新區(qū)天府大道中段1268號(hào)1棟3層22、23號(hào)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開(kāi)了一種兼容式光學(xué)超薄屏下指紋模組功能測(cè)試裝置,包括底座(4)和安裝在底座(4)上的模組支座,所述模組支座包括模組基板(2)、模組上蓋(7)和可更換模組限位片(1),可更換模組限位片(1)和模組上蓋(7)均安裝在模組基板(2)上,可更換模組限位片(1)位于模組基板(2)與模組上蓋(7)之間。本發(fā)明解決了屏下光學(xué)指紋模組功能測(cè)試問(wèn)題,同時(shí),針對(duì)不同模組的測(cè)試,僅簡(jiǎn)易地更換模組限位片就可在同一治具內(nèi)測(cè)試,實(shí)現(xiàn)了不同模組兼容到同一治具的目的,避免專(zhuān)為單個(gè)模組開(kāi)單個(gè)治具,降低了生產(chǎn)成本,提高光學(xué)超薄指紋模組的生產(chǎn)效率。??