一種鎖相環(huán)環(huán)路參數(shù)自校準裝置及方法
基本信息

| 申請?zhí)?/td> | CN201410217554.7 | 申請日 | - |
| 公開(公告)號 | CN103986464B | 公開(公告)日 | 2017-08-29 |
| 申請公布號 | CN103986464B | 申請公布日 | 2017-08-29 |
| 分類號 | H03L7/18(2006.01)I | 分類 | 基本電子電路; |
| 發(fā)明人 | 于云豐;黃偉;潘文光;肖時茂 | 申請(專利權)人 | 無錫中科微電子工業(yè)技術研究院有限責任公司 |
| 代理機構 | 北京中恒高博知識產(chǎn)權代理有限公司 | 代理人 | 無錫中科微電子工業(yè)技術研究院有限責任公司 |
| 地址 | 214000 江蘇省無錫市新區(qū)太湖國際科技園菱湖大道200號微納傳感國際創(chuàng)新園C樓 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要

| 摘要 | 本發(fā)明公開了一種鎖相環(huán)環(huán)路參數(shù)自校準裝置及方法,該裝置包括依次連接的鑒頻鑒相器、電荷泵和環(huán)路濾波器,與所述鑒頻鑒相器具有公共的參考信號Fref輸入端、且連接至環(huán)路濾波器的環(huán)路參數(shù)校正模塊,以及與所述環(huán)路濾波器的輸出端連接、且經(jīng)主分頻器后反饋輸入至鑒頻鑒相器的反饋輸入端的主分頻器。本發(fā)明所述鎖相環(huán)環(huán)路參數(shù)自校準裝置及方法,可以克服現(xiàn)有技術中芯片面積大、制作成本高和溫度補償效果差等缺陷,以實現(xiàn)芯片面積小、制作成本低和溫度補償效果好的優(yōu)點。 |





