一種半導(dǎo)體器件及其制備方法
基本信息

| 申請?zhí)?/td> | CN202110718604.X | 申請日 | - |
| 公開(公告)號 | CN113436974B | 公開(公告)日 | 2022-06-24 |
| 申請公布號 | CN113436974B | 申請公布日 | 2022-06-24 |
| 分類號 | H01L21/335;H01L29/778;H01L23/544 | 分類 | 基本電氣元件; |
| 發(fā)明人 | 楊天應(yīng);劉麗娟;劉石頭 | 申請(專利權(quán))人 | 深圳市時代速信科技有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 北京超凡宏宇專利代理事務(wù)所(特殊普通合伙) | 代理人 | 崔熠 |
| 地址 | 518000 廣東省深圳市前海深港合作區(qū)前灣一路1號A棟201室(入駐前海商務(wù)秘書有限公司) | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要

| 摘要 | 本申請?zhí)峁┮环N半導(dǎo)體器件及其制備方法,涉及半導(dǎo)體技術(shù)領(lǐng)域,方法包括:去除漂移層上的導(dǎo)電溝道形成無源結(jié)構(gòu);在無源結(jié)構(gòu)的漂移層上形成第一源極金屬和第一漏極金屬;第一柵極金屬位于第一源極金屬和第一漏極金屬之間;在第一柵極金屬上形成第二鈍化層;在第二鈍化層上形成源場板,由于第一開路測試結(jié)構(gòu)與實(shí)際器件結(jié)構(gòu)高度相似,其區(qū)別僅在于通過微電子或半導(dǎo)體制備工藝將導(dǎo)電溝道去除,使得第一開路測試結(jié)構(gòu)形成無柵控功能的無源測試結(jié)構(gòu),如此,在配合現(xiàn)有開路去嵌入結(jié)構(gòu)時,能夠完全去除Cpg和Cpd,包括Cpg1、Cpg2、Cpg3以及Cpd1和Cpd2,因此,能夠有效提高模型精度,避免后期需要花費(fèi)大量時間對參數(shù)進(jìn)行擬合。 |





