溝槽器件的制作方法
基本信息

| 申請?zhí)?/td> | CN201410628678.4 | 申請日 | - |
| 公開(公告)號 | CN104409349B | 公開(公告)日 | 2018-06-26 |
| 申請公布號 | CN104409349B | 申請公布日 | 2018-06-26 |
| 分類號 | H01L21/336;H01L21/66;H01L21/306 | 分類 | 基本電氣元件; |
| 發(fā)明人 | 楊彥濤;楊富寶;趙金波;王玨;湯光洪 | 申請(專利權(quán))人 | 成都士蘭半導(dǎo)體制造有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 上海思微知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) | 代理人 | 成都士蘭半導(dǎo)體制造有限公司 |
| 地址 | 610404 四川省成都市金堂縣成都—阿壩工業(yè)集中發(fā)展區(qū)內(nèi) | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要

| 摘要 | 本發(fā)明提供了一種溝槽器件的制作方法,進(jìn)行化學(xué)機(jī)械拋光直至外延層與阻止層的頂面齊平為止,然后測量半導(dǎo)體襯底上方的阻止層的實(shí)際厚度,并根據(jù)半導(dǎo)體襯底上方的阻止層的實(shí)際厚度刻蝕溝槽內(nèi)的外延層,直至使外延層與半導(dǎo)體襯底頂面齊平,該方法既可以去除高于半導(dǎo)體襯底頂面的外延層又不會損傷到零層光刻標(biāo)記,如此,即可保證不會影響光刻對位,又可避免外延層相對于半導(dǎo)體襯底存在凸起使后道的柵氧、多晶工藝等形成臺階,有利于提高器件的耐壓等性能。 |





