一種發(fā)光二極管量子效率測量裝置及其測量方法
基本信息

| 申請?zhí)?/td> | CN201710383842.3 | 申請日 | - |
| 公開(公告)號 | CN107228710B | 公開(公告)日 | 2018-08-07 |
| 申請公布號 | CN107228710B | 申請公布日 | 2018-08-07 |
| 分類號 | G01J3/28;G01J5/22 | 分類 | 測量;測試; |
| 發(fā)明人 | 陳忠;張汝京;林思棋;施天謨;呂毅軍;林岳 | 申請(專利權(quán))人 | 昇瑞光電科技(上海)有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 廈門南強(qiáng)之路專利事務(wù)所(普通合伙) | 代理人 | 廈門大學(xué);昇瑞光電科技(上海)有限公司 |
| 地址 | 361005 福建省廈門市思明南路422號 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要

| 摘要 | 一種發(fā)光二極管量子效率測量裝置及其測量方法,涉及發(fā)光二極管。裝置設(shè)有計算機(jī)、數(shù)字電源表、溫度控制源表、溫控夾具、光譜儀和紅外熱像儀。測量方法:采用發(fā)光二極管量子效率測量裝置;由溫度控制源表設(shè)定一組溫度值T,設(shè)定的一組溫度值至少包含5個不同的溫度值T;按溫度值和電流值測量得到不同溫控夾具溫度值TS下的發(fā)光二極管的一組量子效率η;通過所測得的一組量子效率η,先畫出不同電流值I條件下量子效率η與溫度T的關(guān)系圖;通過公式獲得消除熱影響情況下的量子效率(η′)。 |





