一種產(chǎn)生閃存標(biāo)識(shí)碼的方法

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN200810216343.6 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)（公告）號(hào) CN101567218A 公開(kāi)（公告）日 2009-10-28
申請(qǐng)公布號(hào) CN101567218A 申請(qǐng)公布日 2009-10-28
分類號(hào) G11C16/22(2006.01)I;G11C16/20(2006.01)I;G11C29/04(2006.01)I;G06F12/14(2006.01)I 分類 信息存儲(chǔ);
發(fā)明人 方澤南 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 中國(guó)中電國(guó)際信息服務(wù)有限公司
代理機(jī)構(gòu) 深圳市順天達(dá)專利商標(biāo)代理有限公司 代理人 郭偉剛
地址 518000廣東省深圳市華發(fā)北路46號(hào)桑達(dá)大廈三層
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 一種產(chǎn)生閃存標(biāo)識(shí)碼的方法，包括以下步驟：A1)對(duì)閃存進(jìn)行物理可用位置檢測(cè)，將可用物理位置轉(zhuǎn)換成可用邏輯位置，對(duì)不可用物理位置進(jìn)行壞塊標(biāo)識(shí)，形成FLASH資料表；A2)根據(jù)物理位置與邏輯位置的對(duì)應(yīng)關(guān)系，依據(jù)FLASH資料表產(chǎn)生壞塊索引記錄表；A3)將包含有壞塊標(biāo)識(shí)的索引記錄作為閃存的唯一識(shí)別碼。利用本發(fā)明方法為閃存產(chǎn)生的唯一識(shí)別碼，由于來(lái)源于半導(dǎo)體制造過(guò)程中由不可控因素形成的塊缺陷，具有不可預(yù)知和不可改變的特點(diǎn)，從而為閃存裝置應(yīng)用程序提供基礎(chǔ)的無(wú)法預(yù)制和改變的標(biāo)識(shí)碼，進(jìn)而實(shí)現(xiàn)杜絕閃存內(nèi)容的非法讀取和非法復(fù)制。