自動對焦液晶模組圍觀三維立體檢測光學方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202011488969.X 申請日 -
公開（公告）號 CN112730449A 公開（公告）日 2021-04-30
申請公布號 CN112730449A 申請公布日 2021-04-30
分類號 G01N21/95;G02F1/13 分類 測量；測試;
發(fā)明人 李騰騰;苗偉 申請（專利權(quán)）人 上海辛瑋智能科技有限公司
代理機構(gòu) - 代理人 -
地址 200092 上海市楊浦區(qū)鐵嶺路38號1層
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供一種自動對焦液晶模組圍觀三維立體檢測光學方法，包括以下步驟：根據(jù)成像模塊采集圖像信息；根據(jù)采集到的圖像信息進行三維成像，并形成三維圖像信息；對三維圖像信息進行圖像的明暗度匹配；對匹配后的三維圖像信息與預存信息進行對比，并獲得對比結(jié)果；根據(jù)對比結(jié)果判斷三維圖像信息的缺陷位置，并將缺陷位置記錄并反饋至終端。通過利用成像模塊自動對焦實現(xiàn)了多層次拍照一部分清晰一部分模糊不清技術(shù)難題，保證采集到的整幅圖像各部分均是清晰的；實現(xiàn)了采集到的平面圖像中的圖像內(nèi)容是立體呈現(xiàn)的，還原了圖像內(nèi)容的真實形態(tài)。實現(xiàn)了從多角度，多場景對圖像內(nèi)容進行分析。從而解決特定缺陷不可檢測和誤檢率高的問題。