磁體一階勻場方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN200910088555.5 申請日 -
公開（公告）號 CN101604008B 公開（公告）日 2012-07-04
申請公布號 CN101604008B 申請公布日 2012-07-04
分類號 G01R33/38(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 包尚聯(lián);何群;周堃 申請（專利權）人 北京海思威科技有限公司
代理機構 北京市卓華知識產權代理有限公司 代理人 北京海思威科技有限公司
地址 100871 北京市海淀區(qū)藍旗營小區(qū)3-1606
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及一種用于核磁共振測量(NMR)和磁共振成像(MRI)系統(tǒng)中主磁體的一階有源勻場方法，分別在空間正交的三個方向上進行勻場，用回波偏離時間作為主磁場一階不均勻性的度量，用兩個回波偏離時間的差值與相應方向上主磁場一階不均勻梯度在一定近似條件下的線性關系確定主磁場一階不均勻梯度，把絕對測量變成相對測量，通過對回波的傅里葉變換，把對依據(jù)時間確定主磁場不均勻性的計算轉換成依據(jù)相位確定主磁場不均勻性的計算，用多點測量線性擬合后直線的斜率代替對單點數(shù)據(jù)的計算，同時本方法可以獲得渦流的定量數(shù)據(jù)，為消除渦流提供了解決辦法。本方法顯著提高了測量精度，減少了迭代次數(shù)，加快了勻場的速度，且可以用于NMR和MRI系統(tǒng)中任何磁體。