用于芯片老化測(cè)試的驅(qū)動(dòng)電平調(diào)節(jié)電路及系統(tǒng)
基本信息
| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202111574533.7 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開（公告）號(hào) | CN114200289A | 公開（公告）日 | 2022-03-18 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN114200289A | 申請(qǐng)公布日 | 2022-03-18 |
| 分類號(hào) | G01R31/28（2006.01）I;G01R1/02（2006.01）I | 分類 | 測(cè)量；測(cè)試; |
| 發(fā)明人 | 陳吉鋒;談昳曄;倪衛(wèi)華;鄭朝暉 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 | 上海季豐電子股份有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 北京超凡宏宇專利代理事務(wù)所（特殊普通合伙） | 代理人 | 舒淼 |
| 地址 | 201203上海市浦東新區(qū)祖沖之路1505弄55號(hào) | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本發(fā)明提供了一種用于芯片老化測(cè)試的驅(qū)動(dòng)電平調(diào)節(jié)電路及系統(tǒng)，涉及芯片測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域，該驅(qū)動(dòng)電平調(diào)節(jié)電路包括：驅(qū)動(dòng)輸入端、數(shù)字信號(hào)處理器、數(shù)字模擬轉(zhuǎn)換器、比較器、驅(qū)動(dòng)輸出端、第一場(chǎng)效應(yīng)管、第一電阻、第一電容和第二電容。該驅(qū)動(dòng)電平調(diào)節(jié)電路可通過加載預(yù)設(shè)的邏輯輸入并通過占空比來調(diào)節(jié)輸出電壓的電平，通過調(diào)節(jié)內(nèi)置的電容及電阻實(shí)現(xiàn)對(duì)提高測(cè)試電路的兼容性，同時(shí)實(shí)現(xiàn)了利用數(shù)字信號(hào)產(chǎn)生低速模擬信號(hào)；該調(diào)節(jié)電路結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，解決了現(xiàn)有技術(shù)中芯片老化測(cè)試電路存在的兼容差的問題，并節(jié)省了測(cè)試資源。 |
