一種晶圓測試夾具
基本信息

| 申請?zhí)?/td> | CN202121515537.3 | 申請日 | - |
| 公開(公告)號 | CN215415527U | 公開(公告)日 | 2022-01-04 |
| 申請公布號 | CN215415527U | 申請公布日 | 2022-01-04 |
| 分類號 | G01R1/04(2006.01)I | 分類 | 測量;測試; |
| 發(fā)明人 | 丁兆達;高強;歷德義 | 申請(專利權)人 | 上海季豐電子股份有限公司 |
| 代理機構 | 上海申新律師事務所 | 代理人 | 吳軼淳 |
| 地址 | 201100上海市閔行區(qū)友東路258-288號2幢101室 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要

| 摘要 | 本實用新型提供一種晶圓測試夾具,涉及晶圓測試技術領域,包括:一箱體,箱體內橫向設有至少一托盤,各托盤表面設有至少一晶圓放置層,箱體的垂直于托盤且相對設置的至少一組側面之間設有通風通道。有益效果是本夾具采用質地偏軟的鐵氟龍材料,可以有效保護晶圓,且利用通風通道可以讓風均勻吹過晶圓表面,使晶圓表面溫度均勻、受力均勻。 |





