數(shù)字老化機(jī)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202130691813.0 申請日 -
公開（公告）號 CN307124626S 公開（公告）日 2022-02-22
申請公布號 CN307124626S 申請公布日 2022-02-22
分類號 10-05 （13） 分類 -
發(fā)明人 朱勇;方金虎 申請（專利權(quán)）人 上海季豐電子股份有限公司
代理機(jī)構(gòu) 上海申新律師事務(wù)所 代理人 沈棟棟
地址 201100上海市閔行區(qū)友東路258-288號2幢101室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 1.本外觀設(shè)計產(chǎn)品的名稱：數(shù)字老化機(jī)。2.本外觀設(shè)計產(chǎn)品的用途：用于芯片數(shù)字高溫老化測試。3.本外觀設(shè)計產(chǎn)品的設(shè)計要點(diǎn)：在于形狀。4.最能表明設(shè)計要點(diǎn)的圖片或照片：主視圖。