一種采用均勻切片和拐點特征提取的腭皺識別方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201911130386.7 申請日 -
公開（公告）號 CN111222407B 公開（公告）日 2022-07-01
申請公布號 CN111222407B 申請公布日 2022-07-01
分類號 G06V40/10（2022.01）I;G06V10/46（2022.01）I;G06V10/75（2022.01）I;G06K9/62（2022.01）I 分類 計算；推算；計數(shù);
發(fā)明人 武有成;上官宏;李冰;王安紅;張雄;羅強 申請（專利權(quán)）人 太原科技大學(xué)
代理機構(gòu) 太原中正和專利代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 -
地址 030024山西省太原市萬柏林區(qū)窊流路66號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明屬于人體生物特征法醫(yī)同一認(rèn)定技術(shù)領(lǐng)域，具體技術(shù)方案為：一種采用均勻切片和拐點特征提取的腭皺識別方法，具體步驟為：一、獲取三維腭皺數(shù)據(jù)；二、對三維腭皺數(shù)據(jù)進行均勻切片，對所有切片進行數(shù)據(jù)預(yù)處理，獲取腭皺切線的坐標(biāo)序列；三、提取每個切片腭皺切線的拐點和拐角特征，所有腭皺切線的坐標(biāo)位置、拐點及拐角共同組成腭皺的特征向量；四、逐一比對測試樣本特征和樣本特征庫中的特征，輸出匹配結(jié)果；本方法提出的均勻切片和拐點特征提取的方法，彌補了現(xiàn)有三維腭皺數(shù)據(jù)識別方法欠缺的問題，識別效果可觀。