一種基于正則化磁場分布圖像重建的梯度勻場方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201410605619.5 申請日 -
公開（公告）號 CN104297709B 公開（公告）日 2017-01-11
申請公布號 CN104297709B 申請公布日 2017-01-11
分類號 G01R33/3875(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 劉朝陽;宋侃;鮑慶嘉;陳方 申請（專利權(quán)）人 武漢中科云楚科技有限公司
代理機構(gòu) 武漢宇晨專利事務(wù)所 代理人 中國科學(xué)院武漢物理與數(shù)學(xué)研究所;武漢中科云楚科技有限公司
地址 430071 湖北省武漢市武昌區(qū)小洪山西30號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種基于正則化磁場分布圖像重建的梯度勻場方法。與現(xiàn)有的相位差成像的梯度勻場技術(shù)相比，本發(fā)明提出的圖像重建的優(yōu)化方法通過三次相位差掃描成像獲取初始場圖，采用加入“平滑”和“先驗”勢函數(shù)的罰似然估計方法建立場圖數(shù)據(jù)的罰似然估計函數(shù)，并通過優(yōu)化變換進行函數(shù)的最小化，從而獲得最終的場圖。本方法一方面能有效考慮像素點的連續(xù)性，抑制噪聲和圖像毛刺；另一方面，先驗勢函數(shù)能預(yù)估數(shù)據(jù)的目標形狀，避免優(yōu)化變換過程走向錯誤的方向，針對較不均勻的磁場引起的圖像畸變和纏繞有很好的校正效果。本方法保證了場圖的完整性、提高了信噪比，使得即使在磁場均勻性極差的條件(如“冷場”等)也能獲得一定的勻場效果。