步進式Beta射線法顆粒物監(jiān)測儀

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201410251436.8 申請日 -
公開（公告）號 CN104007048B 公開（公告）日 2016-08-24
申請公布號 CN104007048B 申請公布日 2016-08-24
分類號 G01N15/06(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 郭俊鋒 申請（專利權(quán)）人 北京中晟泰科環(huán)境科技發(fā)展有限責任公司
代理機構(gòu) 北京康信知識產(chǎn)權(quán)代理有限責任公司 代理人 北京中晟泰科環(huán)境科技發(fā)展有限責任公司
地址 100089 北京市海淀區(qū)閔莊路3號玉泉慧谷2號樓
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供了一種步進式Beta射線法顆粒物監(jiān)測儀。該步進式Beta射線法顆粒物監(jiān)測儀包括：安裝架，具有采樣位置和檢測位置；卷膜組件，包括第一卷筒和第二卷筒；夾持牽引組件，包括夾持部件，夾持部件可往復運動地設置在第一卷筒和第二卷筒之間以夾持并驅(qū)動第一卷筒和第二卷筒之間的濾膜，并使濾膜在采樣位置和檢測位置之間往復運動；采樣檢測組件，在夾持部件夾持并驅(qū)動濾膜往復移動至采樣位置及檢測位置時，相應地對濾膜進行采樣和檢測。根據(jù)本發(fā)明，能夠解決現(xiàn)有技術(shù)中使用滾壓碾動方式易產(chǎn)生偏差累積效應而造成濾膜不斷偏離原方向直至斷裂損壞的問題。