目標(biāo)檢測(cè)方法及裝置
基本信息

| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN201910267161.X | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開(公告)號(hào) | CN110096960A | 公開(公告)日 | 2021-06-08 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN110096960A | 申請(qǐng)公布日 | 2021-06-08 |
| 分類號(hào) | G06K9/00;G06K9/46;G06N3/04;G06N3/08 | 分類 | 計(jì)算;推算;計(jì)數(shù); |
| 發(fā)明人 | 李瑋;廖強(qiáng);李辰;萬(wàn)輝 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人 | 成都佳華物鏈云科技有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 北京超凡宏宇專利代理事務(wù)所(特殊普通合伙) | 代理人 | 周宇 |
| 地址 | 101100 北京市通州區(qū)中關(guān)村科技園區(qū)通州園光機(jī)電一體化產(chǎn)業(yè)基地政府路2號(hào)212室 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要

| 摘要 | 本申請(qǐng)涉及目標(biāo)檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域,提供一種目標(biāo)檢測(cè)方法及裝置。其中,目標(biāo)檢測(cè)方法包括:獲取待檢測(cè)圖像;利用主干網(wǎng)絡(luò)對(duì)待檢測(cè)圖像進(jìn)行特征提取后獲得第一特征圖;利用第一卷積層對(duì)第一特征圖進(jìn)行卷積后獲得第二特征圖,利用第二卷積層對(duì)第一特征圖進(jìn)行卷積后獲得第一掩膜圖像;根據(jù)第一掩膜圖像確定第二掩膜圖像,第二掩膜圖像包括前景區(qū)域以及背景區(qū)域,其中前景區(qū)域僅包含非零像素,背景區(qū)域僅包含零像素;將第二特征圖的每個(gè)通道分別與第二掩膜圖像相乘后獲得第三特征圖;基于第三特征圖,利用邊框回歸分支預(yù)測(cè)邊框,以及利用分類分支預(yù)測(cè)類別。上述方法有利于節(jié)約計(jì)算資源以提高目標(biāo)檢測(cè)的效率,同時(shí)還能改善目標(biāo)檢測(cè)的精度。 |





