目標(biāo)檢測方法及裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201910267161.X 申請日 -
公開（公告）號 CN110096960B 公開（公告）日 2021-06-08
申請公布號 CN110096960B 申請公布日 2021-06-08
分類號 G06K9/00;G06K9/46;G06N3/04;G06N3/08 分類 計算；推算；計數(shù);
發(fā)明人 李瑋;廖強;李辰;萬輝 申請（專利權(quán)）人 成都佳華物鏈云科技有限公司
代理機構(gòu) 北京超凡宏宇專利代理事務(wù)所（特殊普通合伙） 代理人 周宇
地址 101100 北京市通州區(qū)中關(guān)村科技園區(qū)通州園光機電一體化產(chǎn)業(yè)基地政府路2號212室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本申請涉及目標(biāo)檢測技術(shù)領(lǐng)域，提供一種目標(biāo)檢測方法及裝置。其中，目標(biāo)檢測方法包括：獲取待檢測圖像；利用主干網(wǎng)絡(luò)對待檢測圖像進行特征提取后獲得第一特征圖；利用第一卷積層對第一特征圖進行卷積后獲得第二特征圖，利用第二卷積層對第一特征圖進行卷積后獲得第一掩膜圖像；根據(jù)第一掩膜圖像確定第二掩膜圖像，第二掩膜圖像包括前景區(qū)域以及背景區(qū)域，其中前景區(qū)域僅包含非零像素，背景區(qū)域僅包含零像素；將第二特征圖的每個通道分別與第二掩膜圖像相乘后獲得第三特征圖；基于第三特征圖，利用邊框回歸分支預(yù)測邊框，以及利用分類分支預(yù)測類別。上述方法有利于節(jié)約計算資源以提高目標(biāo)檢測的效率，同時還能改善目標(biāo)檢測的精度。