一種基于廣義極值理論的瓷絕緣子紅外檢測(cè)閾值優(yōu)化方法、系統(tǒng)及存儲(chǔ)介質(zhì)
基本信息

| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN201911153400.5 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開(公告)號(hào) | CN111141996A | 公開(公告)日 | 2020-05-12 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN111141996A | 申請(qǐng)公布日 | 2020-05-12 |
| 分類號(hào) | G01R31/12;G01R27/02;G01J5/00;G06F30/20 | 分類 | 測(cè)量;測(cè)試; |
| 發(fā)明人 | 劉洋;高嵩;李來福;高超;王永強(qiáng);畢曉甜;張廼龍 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人 | 湖南湖大華龍電氣與信息技術(shù)有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 南京蘇高專利商標(biāo)事務(wù)所(普通合伙) | 代理人 | 國家電網(wǎng)有限公司;湖南湖大華龍電氣與信息技術(shù)有限公司;國網(wǎng)江蘇省電力有限公司電力科學(xué)研究院;江蘇省電力試驗(yàn)研究院有限公司 |
| 地址 | 211100 江蘇省南京市江寧區(qū)帕威爾路1號(hào) | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要

| 摘要 | 本發(fā)明公開了一種基于廣義極值理論的瓷絕緣子紅外檢測(cè)閾值優(yōu)化方法、系統(tǒng)及存儲(chǔ)介質(zhì),包括如下步驟:將紅外檢測(cè)出來的劣化絕緣子利用絕緣電阻表測(cè)試阻值,選擇絕緣電阻作為樣本集;求出劣化絕緣子溫差數(shù)據(jù);使用廣義極值分布對(duì)樣本進(jìn)行擬合,根據(jù)廣義極值分布的函數(shù)表達(dá)式,對(duì)函數(shù)的三個(gè)參數(shù)進(jìn)行極大似然估計(jì),得到分布的參數(shù)值,求出劣化絕緣子溫差數(shù)學(xué)模型;采用K?S檢驗(yàn),檢驗(yàn)樣本是否符合分布;紅外檢測(cè)瓷絕緣子溫差閾值的獲取。本發(fā)明利用極值理論對(duì)樣本進(jìn)行擬合分析,得到紅外檢測(cè)瓷絕緣子的不同程度的溫差閾值,完善了判定準(zhǔn)則,從而提高了紅外檢測(cè)瓷絕緣子的檢測(cè)準(zhǔn)確率,大大降低了電網(wǎng)系統(tǒng)存在的隱患。 |





