互連結(jié)構(gòu)及其形成方法
基本信息

| 申請?zhí)?/td> | CN201711074742.9 | 申請日 | - |
| 公開(公告)號 | CN109755175B | 公開(公告)日 | 2021-08-06 |
| 申請公布號 | CN109755175B | 申請公布日 | 2021-08-06 |
| 分類號 | H01L21/768(2006.01)I | 分類 | 基本電氣元件; |
| 發(fā)明人 | 袁可方;周俊卿;張海洋;王智東 | 申請(專利權(quán))人 | 中芯國際集成電路新技術(shù)研發(fā)(上海)有限公司 |
| 代理機構(gòu) | 北京集佳知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 高磊;吳敏 |
| 地址 | 201203上海市浦東新區(qū)張江路18號 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要

| 摘要 | 一種互連結(jié)構(gòu)及其形成方法,所述形成方法包括:形成基底,所述基底上具有介質(zhì)層;在所述介質(zhì)層內(nèi)形成溝槽,所述溝槽貫穿部分厚度的所述介質(zhì)層;至少在所述溝槽側(cè)壁和底部的介質(zhì)層上形成保護層;形成所述保護層之后,在所述溝槽的底部形成接觸孔,所述接觸孔貫穿剩余厚度的所述介質(zhì)層。通過所述保護層的形成,在所述接觸孔的形成過程中,保護所述溝槽底部和側(cè)壁所露出的介質(zhì)層,從而有效提高所述接觸孔形成之后,所述介質(zhì)層的質(zhì)量,有利于提高所述互連結(jié)構(gòu)形成之后所述介質(zhì)層的性能以及所形成互連結(jié)構(gòu)的性能,有利于改善所形成半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)的性能。 |





