一種原位檢測的表面增強拉曼基底及制備和循環(huán)使用方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201610317411.2 申請日 -
公開（公告）號 CN105823769B 公開（公告）日 2018-08-28
申請公布號 CN105823769B 申請公布日 2018-08-28
分類號 G01N21/65 分類 測量；測試;
發(fā)明人 張政軍;馬菱薇 申請（專利權）人 廣西三環(huán)高科拉曼芯片技術有限公司
代理機構 北京鴻元知識產權代理有限公司 代理人 邸更巖
地址 100084 北京市海淀區(qū)100084信箱82分箱清華大學專利辦公室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 一種原位檢測的表面增強拉曼基底及制備和循環(huán)使用方法，屬于痕量有機物檢測技術領域。本發(fā)明利用原子層沉積技術在銀納米棒陣列表面均勻沉積一層非晶態(tài)氧化鉿薄膜，得到銀—氧化鉿復合納米結構的表面增強拉曼基底。超薄的氧化鉿層不會大幅度衰減基底的靈敏性，基底具有良好的表面增強拉曼效果；同時氧化鉿熔點高，基底的熱穩(wěn)定性好。靈敏且熱穩(wěn)定的銀—氧化鉿復合納米基底不僅可以用于痕量有機物的原位檢測，使用過的基底在高溫加熱后，表面吸附的分子被分解，基底可循環(huán)使用。該銀—氧化鉿復合納米基底擴展了表面增強拉曼效應的應用范圍，降低了檢測成本，提高了實用價值，具有巨大的發(fā)展?jié)摿Α?/td>