光路檢驗平臺

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202120588047.X 申請日 -
公開（公告）號 CN215005912U 公開（公告）日 2021-12-03
申請公布號 CN215005912U 申請公布日 2021-12-03
分類號 G01V8/18（2006.01）I;G01V13/00（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 陳俊豪;汪雨佳 申請（專利權(quán)）人 上海物影科技有限公司
代理機構(gòu) 廣州華進聯(lián)合專利商標代理有限公司 代理人 高潔
地址 200135 上海市浦東新區(qū)中國（上海）自由貿(mào)易試驗區(qū)臨港新片區(qū)天驕路336號3幢304室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型涉及一種光路檢驗平臺，包括固定支架，固定支架上設置輻射源和探測器，探測器與輻射源相對設置；移動支架，移動支架上設有置物架和傳動組件，置物架上設有載物臺，載物臺在置物架上轉(zhuǎn)動設置，置物架沿傳動組件移動以帶動載物臺處于輻射源和探測器之間。本申請所提供的光路檢驗平臺，采用運動互換的方式，將輻射源和探測器進行固定，而將放置物品的載物臺進行旋轉(zhuǎn)，通過轉(zhuǎn)動的載物臺和可移動的置物架使物品實現(xiàn)螺旋轉(zhuǎn)動路徑，并在該路徑中通過輻射源和探測器對物品進行掃描，實現(xiàn)輻射源和探測器光學路徑的驗證，把輻射源及探測器360度旋轉(zhuǎn)方向換成物品的360度旋轉(zhuǎn)，避免輻射源和探測器旋轉(zhuǎn)帶來的安全問題，同時簡化了安裝，降低了成本。