一種功率半導體器件的制備方法
基本信息

| 申請?zhí)?/td> | CN201910335673.5 | 申請日 | - |
| 公開(公告)號 | CN110071043A | 公開(公告)日 | 2019-07-30 |
| 申請公布號 | CN110071043A | 申請公布日 | 2019-07-30 |
| 分類號 | H01L21/331(2006.01)I; H01L21/336(2006.01)I | 分類 | 基本電氣元件; |
| 發(fā)明人 | 白玉明; 楊飛; 吳凱; 杜麗娜; 朱陽軍 | 申請(專利權)人 | 江蘇芯長征微電子集團股份有限公司 |
| 代理機構 | 蘇州國誠專利代理有限公司 | 代理人 | 貴州芯長征科技有限公司;南京芯長征科技有限公司 |
| 地址 | 550081 貴州省貴陽市觀山湖區(qū)林城西路摩根中心A棟第11層2號 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要

| 摘要 | 本發(fā)明涉及一種功率半導體器件的制備方法,其終端區(qū)的第二導電類型體區(qū)與襯底終端溝槽配合形成所需的終端區(qū)結構,而得到第二導電類型體區(qū)時不需要掩模版,與現(xiàn)有工藝相比,使得溝槽型功率半導體器件在正面結構制備時能少用一塊掩模版,有效降低了功率半導體器件的制備成本。由于襯底阻擋層與元胞絕緣氧化層具有不同的刻蝕選擇比,在去除襯底阻擋層時,避免對元胞絕緣氧化層過刻蝕,確保得到功率半導體器件的可靠性。有源區(qū)內存在襯底第二導電類型基區(qū),保證了所制備得到功率半導體器件終端區(qū)的擊穿特性以及有源區(qū)的導通特性,整個工藝過程與現(xiàn)有工藝兼容,安全可靠。 |





