一種測(cè)試向量生成方法、裝置及存儲(chǔ)介質(zhì)
基本信息
| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202210167471.6 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開（公告）號(hào) | CN114398848A | 公開（公告）日 | 2022-04-26 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN114398848A | 申請(qǐng)公布日 | 2022-04-26 |
| 分類號(hào) | G06F30/3308（2020.01）I;G06F30/323（2020.01）I;G06F30/333（2020.01）I | 分類 | 計(jì)算；推算；計(jì)數(shù); |
| 發(fā)明人 | 錢靜潔 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 | 無錫玖熠半導(dǎo)體科技有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 無錫市匯誠(chéng)永信專利代理事務(wù)所（普通合伙） | 代理人 | 朱曉林 |
| 地址 | 214000江蘇省無錫市錫山區(qū)二泉東路19號(hào)集智商務(wù)廣場(chǎng)201 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本申請(qǐng)公開了一種測(cè)試向量生成方法、裝置及存儲(chǔ)介質(zhì)，涉及芯片領(lǐng)域，方法包括：獲取測(cè)試芯片的測(cè)試網(wǎng)表，測(cè)試網(wǎng)表中包含測(cè)試芯片的掃描鏈中所有邏輯電路的測(cè)試節(jié)點(diǎn)及對(duì)應(yīng)的測(cè)試管腳；根據(jù)測(cè)試網(wǎng)表確定測(cè)試芯片的目標(biāo)測(cè)試類型和測(cè)試管腳的信號(hào)值，信號(hào)值用于對(duì)測(cè)試芯片的測(cè)試節(jié)點(diǎn)進(jìn)行故障檢測(cè)；基于測(cè)試管腳和測(cè)試值進(jìn)行邏輯仿真，根據(jù)仿真輸出值生成測(cè)試管腳的測(cè)試向量，并對(duì)具有相同測(cè)試向量的所述測(cè)試節(jié)點(diǎn)進(jìn)行合并，獲得合并后的目標(biāo)測(cè)試向量。本發(fā)明通過標(biāo)定測(cè)試網(wǎng)表中測(cè)試節(jié)點(diǎn)的方式來生成測(cè)試節(jié)點(diǎn)的測(cè)試向量，相比于根據(jù)測(cè)試管腳的數(shù)量來檢測(cè)測(cè)試芯片，可以實(shí)現(xiàn)對(duì)測(cè)試向量的去冗余，且可以減少檢測(cè)次數(shù)，提高芯片檢測(cè)的測(cè)試效率。 |
