一種AlGaN/GaNHEMT微波功率器件小信號本征參數(shù)提取方法
基本信息

| 申請?zhí)?/td> | CN201711321484.X | 申請日 | - |
| 公開(公告)號 | CN108062442B | 公開(公告)日 | 2021-04-06 |
| 申請公布號 | CN108062442B | 申請公布日 | 2021-04-06 |
| 分類號 | G06F30/23(2020.01)I | 分類 | 計算;推算;計數(shù); |
| 發(fā)明人 | 陳勇波 | 申請(專利權(quán))人 | 成都海威華芯科技有限公司 |
| 代理機構(gòu) | 成都華風專利事務(wù)所(普通合伙) | 代理人 | 徐豐;張巨箭 |
| 地址 | 610029四川省成都市雙流縣西南航空港經(jīng)濟開發(fā)區(qū)物聯(lián)網(wǎng)產(chǎn)業(yè)園內(nèi) | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要

| 摘要 | 本發(fā)明公開了一種AlGaN/GaN HEMT微波功率器件小信號本征參數(shù)提取方法,包括:S1:采用有限元熱仿真方法,提取GaN HEMT器件非線性熱阻隨器件功耗和尺寸的變化關(guān)系式;S2:利用冷態(tài)夾斷偏置條件下的S參數(shù)測試數(shù)據(jù),提取GaN HEMT器件常溫下的寄生參數(shù)值;S3:利用不同的環(huán)境溫度下器件脈沖I?V的測試數(shù)據(jù),提取寄生電阻Rs和Rd隨溫度的變化關(guān)系式,得到不同偏置條件下的Rs和Rd的值;S4:采用各個偏置條件下S參數(shù)的測試數(shù)據(jù),寄生參數(shù)剝離,得到本征網(wǎng)絡(luò)Y參數(shù),計算器件小信號等效電路本征參數(shù)值。本方法引入寄生電阻Rs和Rd隨溫度的變化關(guān)系式,使得提取的本征參數(shù)值更可信、更具有物理意義。?? |





