粒度分析系統(tǒng)

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201710332496.6 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN108020492A 公開（公告）日 2018-05-11
申請(qǐng)公布號(hào) CN108020492A 申請(qǐng)公布日 2018-05-11
分類號(hào) G01N15/02 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 郭力;李霖;陳建紅;林勇軍;唐彥軍 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 北京華索科技股份有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京合智同創(chuàng)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 北京華索科技股份有限公司
地址 100085 北京市海淀區(qū)上地東路1號(hào)盈創(chuàng)動(dòng)力大廈5號(hào)樓403室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明實(shí)施例提供一種粒度分析系統(tǒng)，在控制裝置的控制下，先通過取料裝置實(shí)時(shí)獲取待粒度分析區(qū)域的樣本粉料，接著通過一次稱重裝置確定樣本粉料的質(zhì)量，緊接著通過粉料分離裝置對(duì)樣本粉料進(jìn)行粗細(xì)分離處理以獲取樣本粉料的細(xì)粉，再接著通過二次稱重裝置確定細(xì)粉的質(zhì)量，最后控制裝置根據(jù)樣本粉料的質(zhì)量和細(xì)粉的質(zhì)量確定粉料的粒度。本發(fā)明實(shí)施例提供的粒度分析系統(tǒng)能夠在線實(shí)時(shí)且快速方便地對(duì)待粒度分析區(qū)域中的粉料進(jìn)行粒度分析。