一種芯片測試機內(nèi)提高抓取信號精度的方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110345508.5 申請日 -
公開（公告）號 CN113158441A 公開（公告）日 2021-07-23
申請公布號 CN113158441A 申請公布日 2021-07-23
分類號 G06F30/20;G06F119/02 分類 計算；推算；計數(shù);
發(fā)明人 魏津;張經(jīng)祥;吳艷平 申請（專利權）人 勝達克半導體科技（上海）股份有限公司
代理機構 上海專益專利代理事務所（特殊普通合伙） 代理人 方燕娜;王雯婷
地址 201799 上海市青浦區(qū)清河灣路1130號1幢1層
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及芯片測試機技術領域，具體地說是一種芯片測試機內(nèi)提高抓取信號精度的方法。其特征在于包括如下步驟：S1，取理想變化點；S2，取樣本點，對每個樣本點及理想變化點分別進行檢測掃描，并記錄每檢測掃描結(jié)果；S3，多次重復步驟S2；S4，建立統(tǒng)計數(shù)據(jù)模型；S5，得到真實變化點；S6，重復步驟S2?S5；S7，計算信號的整體偏差時間?t；S8，將整體偏差時間?t補償在信號輸入端。同現(xiàn)有技術相比，取一個時間周期內(nèi)所有點，并對所有點進行多點、多次掃描獲取若干個真實點的位置，再對若干個真實點取平均以覆蓋一個周期內(nèi)信號在各個位置變化的情況，充分考慮信號的分布，獲取信號變化的精準位置進行補償，從而提高信號抓取精度。