一種提高固態(tài)硬件存儲性能方法及裝置
基本信息

| 申請?zhí)?/td> | CN202111369308.X | 申請日 | - |
| 公開(公告)號 | CN114300027A | 公開(公告)日 | 2022-04-08 |
| 申請公布號 | CN114300027A | 申請公布日 | 2022-04-08 |
| 分類號 | G11C16/26(2006.01)I;G11C16/10(2006.01)I | 分類 | 信息存儲; |
| 發(fā)明人 | 李悅;弗蘭克·陳;李曉龍 | 申請(專利權(quán))人 | 至譽科技(武漢)有限公司 |
| 代理機構(gòu) | 武漢智權(quán)專利代理事務(wù)所(特殊普通合伙) | 代理人 | 韓夢晴 |
| 地址 | 430000湖北省武漢市東湖新技術(shù)開發(fā)區(qū)高新二路特一號關(guān)南工業(yè)園2號廠房2-3樓西面 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要

| 摘要 | 本發(fā)明公開了一種提高固態(tài)硬件存儲性能方法及裝置,涉及固態(tài)硬盤存儲領(lǐng)域,該方法包括記錄各個SSD(Solid State Drive,固態(tài)硬盤)塊區(qū)寫入待讀取數(shù)據(jù)的寫入時間;接到任一SSD塊區(qū)讀取命令后,依照存儲時長與偏移電壓的對應(yīng)關(guān)系,以對應(yīng)的偏移電壓讀取所述待讀取數(shù)據(jù);所述存儲時長與偏移電壓的對應(yīng)關(guān)系由測試數(shù)據(jù)在不同SSD塊區(qū)存儲不同的時間后,記錄成功讀取所述測試數(shù)據(jù)所使用的偏移電壓所得到,本發(fā)明減少了因為長時間存儲劣化造成的重讀次數(shù),進而提升了SSD的數(shù)據(jù)讀取性能,減少了主機響應(yīng)延遲,減少了SSD錯誤處理的開銷。 |





