一種SSD測試裝置
基本信息

| 申請?zhí)?/td> | CN202123313997.0 | 申請日 | - |
| 公開(公告)號 | CN216486411U | 公開(公告)日 | 2022-05-10 |
| 申請公布號 | CN216486411U | 申請公布日 | 2022-05-10 |
| 分類號 | G06F11/22(2006.01)I | 分類 | 計算;推算;計數; |
| 發(fā)明人 | 付文明;弗蘭克·陳 | 申請(專利權)人 | 至譽科技(武漢)有限公司 |
| 代理機構 | 武漢智權專利代理事務所(特殊普通合伙) | 代理人 | - |
| 地址 | 430000湖北省武漢市東湖新技術開發(fā)區(qū)高新二路特一號關南工業(yè)園2號廠房2-3樓西面 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要

| 摘要 | 本實用新型公開了一種SSD測試裝置,涉及固態(tài)硬盤技術領域,SSD測試裝置包括:測試計算機,包括PC主板;擴展卡;測試背板,與PC主板通過控制線纜連接,測試背板還與擴展卡通過高速線纜連接;以及至少兩個測試轉板,插設在測試背板上,并通過高速線纜與所述擴展卡連接;被測固態(tài)硬盤插接在測試轉板的插座上。與現(xiàn)有技術相比,本實用新型的優(yōu)點如下:通過在測試背板上設置至少兩個測試轉板,可同時進行至少兩個固態(tài)硬盤的測試。當需要進行大批量測試時,增加測試背板上測試轉板的數量,即可進行固態(tài)硬盤的大批量高效測試,有效提高固態(tài)硬盤測試工作的效率。 |





