MEMS器件及其制造方法
基本信息

| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202110795758.9 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開(kāi)(公告)號(hào) | CN113460952A | 公開(kāi)(公告)日 | 2021-10-01 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN113460952A | 申請(qǐng)公布日 | 2021-10-01 |
| 分類(lèi)號(hào) | B81B7/02(2006.01)I;B81C1/00(2006.01)I | 分類(lèi) | 微觀結(jié)構(gòu)技術(shù)〔7〕; |
| 發(fā)明人 | 孟燕子;榮根蘭;孫愷;胡維 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人 | 蘇州敏芯微電子技術(shù)股份有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 北京成創(chuàng)同維知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 蔡純;岳丹丹 |
| 地址 | 215123江蘇省蘇州市工業(yè)園區(qū)金雞湖大道99號(hào)納米城NW09-501 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要

| 摘要 | 公開(kāi)了一種MEMS器件及其制造方法,方法包括:形成第一功能層;在所述第一功能層上形成第一犧牲層;在所述第一犧牲層中形成通孔,所述通孔貫穿所述第一犧牲層;在所述第一犧牲層上形成第二犧牲層,所述第二犧牲層中具有凹槽;在所述第二犧牲層上形成第二功能層,所述第二功能層填充所述第二犧牲層中的凹槽形成防粘結(jié)構(gòu),其中,所述第一犧牲層采用低密度氧化硅材料,所述第二犧牲層采用高密度氧化硅材料。本申請(qǐng)的MEMS器件的制造方法中,在振膜或背極板靠近空腔的一側(cè)表面上形成有防粘結(jié)構(gòu),該防粘結(jié)構(gòu)采用兩層犧牲層形成,具有更加圓滑的形貌,在振膜發(fā)生大形變時(shí),降低了振膜的應(yīng)力集中,進(jìn)而降低了MEMS器件的失效和產(chǎn)品的成本。 |





