一種晶圓級(jí)封裝結(jié)構(gòu)以及器件級(jí)封裝結(jié)構(gòu)

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202023220627.8 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)(公告)號(hào) CN214270212U 公開(kāi)(公告)日 2021-09-24
申請(qǐng)公布號(hào) CN214270212U 申請(qǐng)公布日 2021-09-24
分類號(hào) B81B7/00(2006.01)I;B81B7/02(2006.01)I;B81C1/00(2006.01)I 分類 微觀結(jié)構(gòu)技術(shù)〔7〕;
發(fā)明人 莊瑞芬;李剛 申請(qǐng)(專利權(quán))人 蘇州敏芯微電子技術(shù)股份有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京品源專利代理有限公司 代理人 孟金喆
地址 215002江蘇省蘇州市蘇州工業(yè)園區(qū)金雞湖大道99號(hào)納米城NW-09樓501室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實(shí)用新型實(shí)施例公開(kāi)了一種晶圓級(jí)封裝結(jié)構(gòu)以及器件級(jí)封裝結(jié)構(gòu),該晶圓級(jí)封裝結(jié)構(gòu)包括微機(jī)電系統(tǒng)結(jié)構(gòu)層和鍵合于微機(jī)電系統(tǒng)結(jié)構(gòu)層一側(cè)的封裝層;微機(jī)電系統(tǒng)結(jié)構(gòu)層包括功能空腔和第一焊盤;封裝層包括第一空腔和第二空腔,第一空腔與功能空腔正對(duì),第二空腔與第一焊盤正對(duì);第二空腔的深度大于第一空腔的深度。本實(shí)用新型實(shí)施例提供的技術(shù)方案通過(guò)設(shè)置第二空腔的深度大于第一空腔的深度,形成第二空腔的封裝層的位置與微機(jī)電系統(tǒng)結(jié)構(gòu)層的距離較遠(yuǎn),使得對(duì)第二空腔對(duì)應(yīng)的封裝層進(jìn)行切割時(shí)而不會(huì)損傷微機(jī)電系統(tǒng)結(jié)構(gòu)層,使得晶圓級(jí)封裝結(jié)構(gòu)有較高的可靠性,提高微機(jī)電系統(tǒng)結(jié)構(gòu)層封裝的良率。