低溫面形攝影測(cè)量方法
基本信息

| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN201510599033.7 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開(公告)號(hào) | CN105403168A | 公開(公告)日 | 2016-03-16 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN105403168A | 申請(qǐng)公布日 | 2016-03-16 |
| 分類號(hào) | G01B11/24(2006.01)I | 分類 | 測(cè)量;測(cè)試; |
| 發(fā)明人 | 錢元;婁錚;劉昌儒;范生宏;王海仁;左營(yíng)喜;楊戟 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人 | 北京普達(dá)迪泰科技有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 南京鐘山專利代理有限公司 | 代理人 | 中國科學(xué)院紫金山天文臺(tái);北京普達(dá)迪泰科技有限公司 |
| 地址 | 210008 江蘇省南京市鼓樓區(qū)北京西路2號(hào) | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要

| 摘要 | 本發(fā)明公開了一種低溫面形攝影測(cè)量方法,其采用高分辨率工業(yè)相機(jī),結(jié)合低溫電機(jī)驅(qū)動(dòng)的自動(dòng)測(cè)試臺(tái),實(shí)現(xiàn)測(cè)量設(shè)備在低溫環(huán)境實(shí)驗(yàn)艙中的自動(dòng)化拍攝;利用常溫下三坐標(biāo)儀測(cè)量結(jié)果對(duì)靶標(biāo)厚度進(jìn)行標(biāo)定,從而消除了由靶標(biāo)厚度差異造成的系統(tǒng)測(cè)量誤差。本發(fā)明在低溫環(huán)境實(shí)驗(yàn)艙中,實(shí)現(xiàn)了2.1微米rms的重復(fù)測(cè)量精度、測(cè)量效果理想,可在常溫至-60℃的溫度范圍內(nèi)測(cè)量了多種板材結(jié)構(gòu)的面形的變化規(guī)律。 |





