一種光學(xué)材料透過(guò)率的測(cè)試系統(tǒng)及測(cè)試方法

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201310130954.X 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)（公告）號(hào) CN104111238A 公開(kāi)（公告）日 2014-10-22
申請(qǐng)公布號(hào) CN104111238A 申請(qǐng)公布日 2014-10-22
分類(lèi)號(hào) G01N21/59(2006.01)I 分類(lèi) 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 雷牧云 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人 爍光特晶科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京銀龍知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 爍光特晶科技有限公司
地址 100018 北京市朝陽(yáng)區(qū)東壩紅松園1號(hào)院
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供一種光學(xué)材料透過(guò)率的測(cè)試系統(tǒng)及測(cè)試方法。所述測(cè)試系統(tǒng)包括：光源，沿第一方向發(fā)射光線，獲得用于測(cè)試的入射光；至少兩個(gè)被測(cè)樣品，第一被測(cè)樣品用于接收入射光，且入射光相對(duì)于第一被測(cè)樣品表面呈一角度，入射光穿透第一被測(cè)樣品之后獲得第一折射光；第二被測(cè)樣品用于接收第一折射光，且使第一折射光穿透第二被測(cè)樣品之后獲得第二折射光，沿第二方向傳輸，其中第一方向與所述第二方向位于同一直線上，第一被測(cè)樣品與第二被測(cè)樣品的規(guī)格相同；探測(cè)器，用于接收第二折射光，檢測(cè)獲得第二折射光的光強(qiáng)I。通過(guò)放置兩塊被測(cè)樣品，入射光經(jīng)重復(fù)折射，可以測(cè)得樣品在有角度入射時(shí)的透過(guò)率，解決有角度入射時(shí)的透過(guò)率測(cè)試問(wèn)題。