MOS器件PK儀

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201511009592.4 申請日 -
公開（公告）號 CN105425083B 公開（公告）日 2018-04-20
申請公布號 CN105425083B 申請公布日 2018-04-20
分類號 G01R31/00 分類 測量；測試;
發(fā)明人 王常毅;李勇昌;鄒鋒;彭順剛;朱金華 申請（專利權）人 桂林斯壯微電子有限責任公司
代理機構 桂林市持衡專利商標事務所有限公司 代理人 桂林斯壯微電子有限責任公司
地址 541004 廣西壯族自治區(qū)桂林市國家高新區(qū)信息產業(yè)園D-8號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開一種MOS器件PK儀，主要由殼體，固定在殼體上的電源開關、2個液晶顯示屏、2組測試檔位選擇鍵和2組調節(jié)旋鈕，以及設置在殼體內的2套測試平臺組成；其中電源開關同時與2套測試平臺的電源端相連；每套測試平臺的輸入端各連接1組測試檔位選擇鍵和1組調節(jié)旋鈕的輸出端；每套測試平臺的輸出端各連接1個液晶顯示屏。本發(fā)明操作簡單，對比情況直觀，不需要購買昂貴的檢測/試驗設備，便可輕松了解樣品性能對比情況；體積小重量輕，便于攜帶，有利于業(yè)務人員為客戶直觀演示產品性能，有利于研發(fā)人員現(xiàn)場快速了解樣品性能對比情況。