壓力傳感器的硅芯片結(jié)構(gòu)總成
基本信息

| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN201320788479.0 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開(kāi)(公告)號(hào) | CN203616042U | 公開(kāi)(公告)日 | 2014-05-28 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN203616042U | 申請(qǐng)公布日 | 2014-05-28 |
| 分類(lèi)號(hào) | G01L9/06(2006.01)I;G01L19/00(2006.01)I | 分類(lèi) | 測(cè)量;測(cè)試; |
| 發(fā)明人 | 沈紹群;羅小勇 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人 | 上海旦宇傳感器科技有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 廣州嘉權(quán)專(zhuān)利商標(biāo)事務(wù)所有限公司 | 代理人 | 馮劍明 |
| 地址 | 529100 廣東省江門(mén)市新會(huì)區(qū)會(huì)城西門(mén)路圭峰高科技園 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要

| 摘要 | 本實(shí)用新型公開(kāi)了壓力傳感器的硅芯片結(jié)構(gòu)總成,包括硅芯片,所述硅芯片上設(shè)置有硅彈性膜區(qū),在該硅彈性膜區(qū)上設(shè)置有四個(gè)壓敏電阻構(gòu)成惠斯頓電橋,所述硅芯片上連接有金屬基座,所述金屬基座上設(shè)置有容置外部被測(cè)介質(zhì)的通道,硅芯片上對(duì)應(yīng)該通道位置設(shè)置有背腔區(qū),背腔區(qū)與所述硅彈性膜區(qū)對(duì)應(yīng),所述硅彈性膜區(qū)為由梁區(qū)和膜區(qū)構(gòu)成的梁膜區(qū),所述四個(gè)壓敏電阻設(shè)置在所述梁區(qū)上,梁區(qū)厚度為膜區(qū)厚度的二倍以上,使得被測(cè)介質(zhì)作用于膜區(qū)的壓力會(huì)集中到梁區(qū)上,大大的提高了硅彈性膜區(qū)的靈敏度,降低了檢測(cè)誤差,并且本實(shí)用新型結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單合理緊湊、實(shí)施方便、成本低,能夠很好的適應(yīng)行業(yè)發(fā)展的需求。 |





