一種兼容多種規(guī)格光模塊老化測試的裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202022273187.6 申請日 -
公開（公告）號 CN213544704U 公開（公告）日 2021-06-25
申請公布號 CN213544704U 申請公布日 2021-06-25
分類號 G01R31/00（2006.01）I;G01R1/04（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 張潤澤;黃慶;陳碩;王光輝;張紹友 申請（專利權(quán)）人 成都市德科立菁銳光電子技術(shù)有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京市領(lǐng)專知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 張玲
地址 610000四川省成都市高新區(qū)（西區(qū)）天虹路5號3棟4層1號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實(shí)用新型公開了一種兼容多種規(guī)格光模塊老化測試的裝置，包括測試板，還包括若干類型子測試板，所述測試板設(shè)有若干組主板數(shù)據(jù)接口；所述若干類型子測試板中任意一個(gè)類型的子測試板的一端設(shè)有子板數(shù)據(jù)接口，另一端設(shè)有光模塊數(shù)據(jù)接口；所述若干類型子測試板中任意兩個(gè)不同類型的子測試板的光模塊數(shù)據(jù)接口不同；所述若干類型子測試板中任意一個(gè)類型的子測試板的子板數(shù)據(jù)接口與測試板的若干組主板數(shù)據(jù)接口中任意一組主板數(shù)據(jù)接口相連接，光模塊數(shù)據(jù)接口用于與需測試的相匹配的光模塊連接。其有益效果是：采用一個(gè)裝置，實(shí)現(xiàn)對多種規(guī)格的光模塊測試，降低生產(chǎn)研發(fā)成本，提高生產(chǎn)效率。