太陽能電池片、硅片背面光學(xué)檢測系統(tǒng)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201210110136.9 申請日 -
公開（公告）號 CN103376197B 公開（公告）日 2015-08-19
申請公布號 CN103376197B 申請公布日 2015-08-19
分類號 G01M11/00(2006.01)I;G01N21/88(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 肖長力;楊廣;魯乾坤;趙潤川;楊鐵成;王利順;惠施;徐維軍;李波 申請（專利權(quán)）人 蘇州中導(dǎo)光電設(shè)備有限公司
代理機(jī)構(gòu) 昆山四方專利事務(wù)所 代理人 蘇州中導(dǎo)光電設(shè)備有限公司
地址 215311 江蘇省蘇州市昆山市巴城鎮(zhèn)臨港工業(yè)園瑞安路8號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種太陽能電池片、硅片背面光學(xué)檢測系統(tǒng)，傳送機(jī)構(gòu)能夠帶動電池片、硅片直線運(yùn)動定位于機(jī)架上，第一、二撥動機(jī)構(gòu)沿傳送機(jī)構(gòu)運(yùn)動方向依次固定于機(jī)架上，第一、二撥動機(jī)構(gòu)能夠?qū)㈦姵仄?、硅片沿垂直其運(yùn)動方向撥動設(shè)定距離，所述第一、二撥動機(jī)構(gòu)撥動方向相反，成像裝置分別對應(yīng)第一、二撥動機(jī)構(gòu)固定于傳送機(jī)構(gòu)正上方的機(jī)架上，成像裝置能夠分別對經(jīng)過第一、二撥動機(jī)構(gòu)撥動的電池片、硅片成像輸出給處理器，所述機(jī)架位于傳送機(jī)構(gòu)正下方設(shè)有光源，本發(fā)明通過對不同位置的硅片分別成像，實(shí)現(xiàn)了全面檢測，檢測精度高，檢測效率高，非接觸式檢測模式，避免了電池片、硅片的損傷，降低了不良率，確保了檢測精度。