一種點(diǎn)壓力測試臺(tái)
基本信息
| 申請?zhí)?/td> | CN201921986998.1 | 申請日 | - |
| 公開（公告）號(hào) | CN211122311U | 公開（公告）日 | 2020-07-28 |
| 申請公布號(hào) | CN211122311U | 申請公布日 | 2020-07-28 |
| 分類號(hào) | G01N3/08(2006.01)I;G01N3/04(2006.01)I | 分類 | - |
| 發(fā)明人 | 閆方亮;楊麗霞;朱勛;史繼巖;閆建康;匡小鵬;于渤 | 申請（專利權(quán)）人 | 北京聚睿眾邦科技有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 北京一枝筆知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） | 代理人 | 張慶瑞 |
| 地址 | 100085北京市海淀區(qū)西山華府禧園56號(hào)樓1單元7層 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本實(shí)用新型屬于壓力測試設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域，公開了一種用于半導(dǎo)體芯片的點(diǎn)壓力測試臺(tái)，包括底座倉、底座倉上端的支撐臺(tái)架和支撐臺(tái)架上端的夾具組件，底座倉上端與所述支撐臺(tái)架通過螺絲固定連接，夾具組件滑動(dòng)連接在支撐臺(tái)架上端，夾具組件沿支撐臺(tái)架中部對(duì)稱設(shè)置，支撐臺(tái)架上端固定有骨架，骨架呈門字型，骨架遠(yuǎn)離支撐臺(tái)架端固定有點(diǎn)壓力測試組件；該點(diǎn)壓力測試臺(tái)通過調(diào)節(jié)兩個(gè)夾具之間的距離，便于擺放不同尺寸的半導(dǎo)體芯片，適用性廣，同時(shí)在測試時(shí)，將壓頭與工件接觸，可通過杠桿結(jié)構(gòu)上的旋轉(zhuǎn)螺母控制杠桿的水平，進(jìn)而精確的控制壓頭與工件處于接觸狀態(tài)，測試精確，便于控制與讀數(shù)；且支撐臺(tái)架底部為錐形真空部，可有效避免應(yīng)力集中，延長試驗(yàn)臺(tái)的使用壽命。?? |
