一種電性能測試裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202021607786.0 申請日 -
公開（公告）號 CN213457135U 公開（公告）日 2021-06-15
申請公布號 CN213457135U 申請公布日 2021-06-15
分類號 G01R31/00（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 車瑞飛;辛廣興;余曉鑫;陳松磨 申請（專利權(quán)）人 廣州創(chuàng)天電子科技有限公司
代理機構(gòu) 深圳市道臻知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 朱亞
地址 510000廣東省廣州市黃埔區(qū)來安一街8號之一
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型屬于電容測試領(lǐng)域，具體涉及一種電性能測試裝置，包括：測試架，設(shè)置在測試架上的第一電極測試臺，設(shè)置在第一電極測試臺上方可伸縮的第二電極頂針，以及設(shè)置在第一電極測試臺上方可上下運動的導(dǎo)電吸嘴，所述第二電極頂針滑動穿設(shè)在測試架上；通過導(dǎo)電吸嘴可以用于抓取固定芯片電容器并與芯片電容器的其一電極板連接，其中第二電極頂針可伸縮的設(shè)置在第一電極測試臺上方，當(dāng)導(dǎo)電吸嘴向下運動時，碰到導(dǎo)電吸嘴的第二電極頂針會收縮并抵靠在導(dǎo)電吸嘴側(cè)面，直至導(dǎo)電吸嘴上的芯片電容器的另一電極板的下端接觸第一電極測試臺形成測試回路，即可配合測試電路板對芯片電容器進行電性能測試，方便快捷，有效的縮短測試時間，提高測試效率。