光刻方法
基本信息

| 申請?zhí)?/td> | CN201810994609.3 | 申請日 | - |
| 公開(公告)號 | CN110865520B | 公開(公告)日 | 2022-03-18 |
| 申請公布號 | CN110865520B | 申請公布日 | 2022-03-18 |
| 分類號 | G03F9/00(2006.01)I | 分類 | 攝影術;電影術;利用了光波以外其他波的類似技術;電記錄術;全息攝影術〔4〕; |
| 發(fā)明人 | 黃濤 | 申請(專利權)人 | 晶能光電股份有限公司 |
| 代理機構 | - | 代理人 | - |
| 地址 | 330096江西省南昌市高新開發(fā)區(qū)艾溪湖北路699號 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要

| 摘要 | 本發(fā)明提供了一種光刻方法,包括:提供半導體晶圓,在所述半導體晶圓上形成光刻膠層;基于光刻板表面的對位標記將半導體晶圓與光刻板對齊,所述光刻板中還包括一用于隔離圖形區(qū)域和非圖形區(qū)域的標記位;對半導體晶圓表面的光刻膠層進行曝光和顯影,以圖形化所述光刻膠層。在光刻的過程中,通過該標記位將處于晶圓邊緣的非圖形區(qū)域中的光刻膠與圖形區(qū)域隔離,保證晶圓最外圈圖形的一致性,提升產(chǎn)品良率。 |





