低電壓電容測(cè)試系統(tǒng)及方法
基本信息
| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202110668154.8 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開(kāi)（公告）號(hào) | CN113391192A | 公開(kāi)（公告）日 | 2021-09-14 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN113391192A | 申請(qǐng)公布日 | 2021-09-14 |
| 分類(lèi)號(hào) | G01R31/28（2006.01）I;G01R27/26（2006.01）I | 分類(lèi) | 測(cè)量；測(cè)試; |
| 發(fā)明人 | 李祥;周建宇;黃少海;黨代表 | 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人 | 蘇州市運(yùn)泰利自動(dòng)化設(shè)備有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 廣州市越秀區(qū)哲力專(zhuān)利商標(biāo)事務(wù)所（普通合伙） | 代理人 | 王忠浩 |
| 地址 | 215000江蘇省蘇州市太湖國(guó)家旅游度假區(qū)光福鎮(zhèn)福利村102號(hào) | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本發(fā)明公開(kāi)了一種低電壓電容測(cè)試方法，控制端元設(shè)定電路導(dǎo)通臨界值，檢測(cè)電路導(dǎo)通臨界值是否符合要求，若是，執(zhí)行下一步，若否，重新設(shè)定；微型恒流充電單元對(duì)待測(cè)電容進(jìn)行充電；電壓檢測(cè)單元測(cè)量待測(cè)電容上的電壓值，生成電容電壓數(shù)據(jù)，頻率檢測(cè)單元測(cè)量待測(cè)電容上的電壓值，生成頻率數(shù)據(jù)；電壓放大單元對(duì)電容電壓數(shù)據(jù)進(jìn)行放大并生成電壓放大數(shù)據(jù)；控制單元根據(jù)電壓放大數(shù)據(jù)、頻率數(shù)據(jù)進(jìn)行待測(cè)試電容的數(shù)據(jù)推算。采用所述恒流放電單元、微型恒流充電單元配合進(jìn)行電容檢測(cè)，可以在IC內(nèi)部電路不導(dǎo)通的情況下進(jìn)行電容檢測(cè)，同時(shí)不會(huì)影響電容充電，增加了測(cè)量的準(zhǔn)確性，解決了電容值測(cè)試不準(zhǔn)確的問(wèn)題。本發(fā)明還公開(kāi)了一種低電壓電容測(cè)試系統(tǒng)。 |
