DWDM光模塊發(fā)端調試方法
基本信息

| 申請?zhí)?/td> | CN202011520356.X | 申請日 | - |
| 公開(公告)號 | CN112636865A | 公開(公告)日 | 2021-04-09 |
| 申請公布號 | CN112636865A | 申請公布日 | 2021-04-09 |
| 分類號 | H04J14/02;H04B10/50;H04B10/572 | 分類 | 電通信技術; |
| 發(fā)明人 | 范巍;楊培云;何志賢 | 申請(專利權)人 | 四川華拓光通信股份有限公司 |
| 代理機構 | 北京遠大卓悅知識產權代理有限公司 | 代理人 | 賈曉燕 |
| 地址 | 621000 四川省綿陽市涪城區(qū)金家林總部經濟試驗區(qū) | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要

| 摘要 | 本發(fā)明公開了一種DWDM光模塊發(fā)端調試方法,包括:S1、基于模塊中激光器的特性,通過對發(fā)射中心波長與TEC溫度斜率K1、發(fā)射光功率與TEC溫度斜率K2進行計算,并根據計算結果得到對應的TEC溫度、功率變化量;S2、根據TEC溫度、功率變化量,在DWDM模塊發(fā)端調試時,對發(fā)端功率、中心波長進行預調試,進而縮減發(fā)端中心波長調試的次數和發(fā)端調試循環(huán)的次數。本發(fā)明提供一種DWDM光模塊發(fā)端調試方法,其利用發(fā)端調試中根據TOSA的工作特性,預先計算出發(fā)射中心波長與TEC溫度斜率K1,發(fā)射光功率與TEC溫度斜率K2,在DWDM模塊發(fā)端調試時,用K1、K2系數計算出所需的目標值替代實際調試值,縮減發(fā)端中心波長調試的次數、發(fā)端調試循環(huán)的次數、調試等待時間,大幅降低發(fā)端調試的用時,調高生產效率,調試時間只是現有方案的二分之一,調試效率提高200%。 |





