半導(dǎo)體裝置
基本信息

| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN201880002921.8 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開(公告)號(hào) | CN109478570B | 公開(公告)日 | 2021-08-31 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN109478570B | 申請(qǐng)公布日 | 2021-08-31 |
| 分類號(hào) | H01L29/78;H01L29/861;H01L29/868;H01L21/336;H01L29/739 | 分類 | 基本電氣元件; |
| 發(fā)明人 | 吉田崇一;宮田大嗣 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人 | 富士電機(jī)株式會(huì)社 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 北京銘碩知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 金玉蘭;王穎 |
| 地址 | 日本神奈川縣川崎市 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要

| 摘要 | 由于掩模下垂或掩模圖案的錯(cuò)位,存在在半導(dǎo)體基板的表面露出的P型區(qū)域變?yōu)镹型區(qū)域的情況。本發(fā)明提供具有半導(dǎo)體基板的半導(dǎo)體裝置。半導(dǎo)體基板包含晶體管區(qū),晶體管區(qū)具備漂移區(qū)、多個(gè)溝槽部、多個(gè)發(fā)射區(qū)和多個(gè)接觸區(qū)、以及積累區(qū),該積累區(qū)在深度方向上設(shè)置于漂移區(qū)與多個(gè)發(fā)射區(qū)之間并具有比漂移區(qū)高的第一導(dǎo)電型的摻雜濃度,多個(gè)接觸區(qū)中的在與第一方向平行的方向上位于最外側(cè)的第一最外接觸區(qū)在第一方向上的長(zhǎng)度比多個(gè)接觸區(qū)中的除第一最外接觸區(qū)以外的一個(gè)接觸區(qū)長(zhǎng),積累區(qū)在第一最外接觸區(qū)的下方終止。 |





