硬件測試方法、裝置、電子設備和存儲介質(zhì)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202011119729.2 申請日 -
公開（公告）號 CN112181749A 公開（公告）日 2021-01-05
申請公布號 CN112181749A 申請公布日 2021-01-05
分類號 G06F11/22;G06F11/36 分類 計算；推算；計數(shù);
發(fā)明人 張雪梅 申請（專利權）人 龍尚科技（上海）有限公司
代理機構 北京品源專利代理有限公司 代理人 龍尚科技（上海）有限公司
地址 201203 上海市浦東新區(qū)自由貿(mào)易試驗區(qū)龍東大道3000號A樓606室-A
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種硬件測試方法、裝置、電子設備和存儲介質(zhì)，其中，該方法包括：根據(jù)獲取的入?yún)鼍按_定待測硬件對應應用程序接口API的API種類和API調(diào)用順序；通過所述API種類和所述API調(diào)用順序在預設測試表單中依次調(diào)用接口測試用例測試所述待測硬件；在預設界面展示所述待測硬件的測試結果。本發(fā)明實施例的技術方案，通過入?yún)鼍按_定待測硬件需要測試的API種類和API調(diào)用順序，并獲取對應的接口測試用例進行硬件測試，減少了測試用例的重復設計時間，提高了硬件測試效率，輔助客戶快速還原應用場景，降低故障定位的難度，提高問題定位效率，可增強用戶體驗程度。