一種用于激光直接成像設(shè)備正反面成像對位的打標(biāo)方法
基本信息

| 申請?zhí)?/td> | CN201910686270.5 | 申請日 | - |
| 公開(公告)號 | CN110441993B | 公開(公告)日 | 2021-08-13 |
| 申請公布號 | CN110441993B | 申請公布日 | 2021-08-13 |
| 分類號 | G03F7/20;G03F9/00 | 分類 | 攝影術(shù);電影術(shù);利用了光波以外其他波的類似技術(shù);電記錄術(shù);全息攝影術(shù)〔4〕; |
| 發(fā)明人 | 嚴(yán)孝年;尤勇 | 申請(專利權(quán))人 | 合肥芯碁微電子裝備股份有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 合肥天明專利事務(wù)所(普通合伙) | 代理人 | 奚華保 |
| 地址 | 230088 安徽省合肥市高新區(qū)創(chuàng)新大道2800號創(chuàng)新產(chǎn)業(yè)園二期F3樓11層 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要

| 摘要 | 本發(fā)明公開了一種用于激光直接成像設(shè)備正反面成像對位的打標(biāo)方法,屬于印刷電路板圖形轉(zhuǎn)移技術(shù)領(lǐng)域,包括在基板正、反面覆有第一感光顯色材料;對涂布感光濕膜后的基板進(jìn)行烘干處理;在基板反面需要打?qū)ξ粯?biāo)靶的位置覆有第二感光顯色材料;安裝并調(diào)試基板后,對基板正、反面進(jìn)行曝光成像。本發(fā)明在激光直接成像設(shè)備正反面成像對位過程中,結(jié)合干膜和濕膜進(jìn)行使用,在實(shí)現(xiàn)準(zhǔn)確對位的同時降低了使用成本。 |





