一種用于光學(xué)特性參數(shù)測(cè)試的LED外延結(jié)構(gòu)
基本信息

| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN201320387474.7 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開(kāi)(公告)號(hào) | CN203351640U | 公開(kāi)(公告)日 | 2013-12-18 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN203351640U | 申請(qǐng)公布日 | 2013-12-18 |
| 分類號(hào) | H01L33/04(2010.01)I;H01L33/36(2010.01)I | 分類 | 基本電氣元件; |
| 發(fā)明人 | 梁秉文 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人 | 光壘光電科技(上海)有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 深圳市銘粵知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 楊林;馬翠平 |
| 地址 | 200050 上海市長(zhǎng)寧區(qū)延安西路889號(hào)1106B室 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要

| 摘要 | 本實(shí)用新型公開(kāi)一種用于光學(xué)特性參數(shù)測(cè)試的LED外延結(jié)構(gòu),其包括在襯底上依次形成的緩沖層、第一半導(dǎo)體層、量子阱層、第二半導(dǎo)體層,在第二半導(dǎo)體層上設(shè)有第一透明導(dǎo)電層,LED外延結(jié)構(gòu)中設(shè)有封閉的隔離槽,隔離槽環(huán)繞部分LED外延結(jié)構(gòu),形成測(cè)試島,測(cè)試島作為測(cè)試區(qū)域;其中,隔離槽至少貫穿第一透明導(dǎo)電層、第二半導(dǎo)體層和量子阱層,并且隔離槽位于緩沖層之上。另外,在第一透明導(dǎo)電層上還設(shè)有第二透明導(dǎo)電層,第二透明導(dǎo)電層向測(cè)試島周圍延伸而形成延伸部,該延伸部用于放置接觸電極。本實(shí)用新型的用于光學(xué)特性參數(shù)測(cè)試的LED外延結(jié)構(gòu),將測(cè)試區(qū)域面積固定,并且將接觸電極與測(cè)試島的接觸面積固定,在測(cè)試過(guò)程中提高了測(cè)試的精度以及準(zhǔn)確度。 |





