一種伺服可調(diào)式擺錘沖擊測試機

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201910837623.7 申請日 -
公開（公告）號 CN110441019A 公開（公告）日 2019-11-12
申請公布號 CN110441019A 申請公布日 2019-11-12
分類號 G01M7/08（2006.01）I; G01N3/303（2006.01）I; G01N3/06（2006.01）I; G01N3/04（2006.01）I; G01N3/02（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 李新宏; 唐偉; 吳澤光; 趙保恩 申請（專利權(quán)）人 武漢阿李智能科技有限公司
代理機構(gòu) - 代理人 -
地址 湖北省武漢市江夏區(qū)廟山高新技術(shù)產(chǎn)業(yè)園騰訊大道3號A-01房屋
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明屬于電子測試裝置技術(shù)領(lǐng)域，尤其為一種伺服可調(diào)式擺錘沖擊測試機，包括：機架組件；所述機架組件包括底板，所述底板的頂部固定安裝有機框；送料機構(gòu)，所述送料機構(gòu)固定在底板上，其用于帶動芯片在機框內(nèi)進行移動；夾具組件，所述夾具組件固定在送料機構(gòu)上，其用于將需要測試的芯片進行固定；擺鐘機構(gòu)，所述擺鐘機構(gòu)固定在底板上。本發(fā)明采用夾具組件將需要測試的芯片進行固定后，利用送料機構(gòu)帶動夾具組件在機框內(nèi)進行移動，方便操作人員進行上下料操作，利用擺鐘機構(gòu)對夾具組件上的芯片進行沖擊測試，通過拍攝機構(gòu)對沖擊測試過程中進行拍攝記錄，因此采用本發(fā)明對芯片進行力度沖擊測試，具有測試效率高和測試結(jié)果準確的優(yōu)點。