超低壓觸發(fā)器件
基本信息

| 申請?zhí)?/td> | CN202021225167.5 | 申請日 | - |
| 公開(公告)號 | CN212750894U | 公開(公告)日 | 2021-03-19 |
| 申請公布號 | CN212750894U | 申請公布日 | 2021-03-19 |
| 分類號 | H01L27/06(2006.01)I;H01L21/8222(2006.01)I;H01L27/02(2006.01)I | 分類 | 基本電氣元件; |
| 發(fā)明人 | 楊玨琳;宋文龍;李澤宏;張鵬 | 申請(專利權)人 | 成都吉萊芯科技有限公司 |
| 代理機構 | 南京正聯(lián)知識產權代理有限公司 | 代理人 | 查鑫利 |
| 地址 | 610000四川省成都市自由貿易試驗區(qū)成都高新區(qū)世紀城南路599號6棟5層505號 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要

| 摘要 | 超低壓觸發(fā)器件,包括從下到上依次為背面金屬電極、P+襯底層、N型外延層、絕緣介質層、正面金屬層,N型外延層端面一邊到另一邊依次設P+隔離層、N+多晶硅和P型基區(qū);P+隔離層穿通至P+襯底層;N+多晶硅、P型基區(qū)兩個區(qū)域中均設P+源區(qū)、N+源區(qū)。超低壓觸發(fā)器件的制作方法,包括如下步驟:淀積N型外延層;高溫推進形成P+隔離層;淀積N+多晶硅,露出N型外延層;推結形成P型基區(qū);在N+多晶硅、P型基區(qū)區(qū)域中,形成P+源區(qū),隨后光刻注入高濃度N型雜質形成N+源區(qū);淀積絕緣介質層,完成正面金屬層;淀積背面金屬電極。本發(fā)明有效減少成本及觸發(fā)電壓,擁有超低觸發(fā)電壓及強泄放電荷能力。?? |





