FinFET的摻雜方法
基本信息

| 申請?zhí)?/td> | CN201510107549.5 | 申請日 | - |
| 公開(公告)號 | CN106033715A | 公開(公告)日 | 2016-10-19 |
| 申請公布號 | CN106033715A | 申請公布日 | 2016-10-19 |
| 分類號 | H01L21/265(2006.01)I;H01L21/336(2006.01)I | 分類 | 基本電氣元件; |
| 發(fā)明人 | 洪俊華;吳漢明;陳炯;張勁 | 申請(專利權)人 | 上海臨港凱世通半導體有限公司 |
| 代理機構 | 上海弼興律師事務所 | 代理人 | 上海凱世通半導體股份有限公司;上海臨港凱世通半導體有限公司 |
| 地址 | 201203 上海市浦東新區(qū)張江高科技園區(qū)牛頓路200號7號樓1號 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要

| 摘要 | 本發(fā)明公開了一種FinFET的摻雜方法,該FinFET包括襯底和位于襯底上平行間隔設置的Fin,每根Fin包括頂面、第一側壁和第二側壁,該摻雜方法包括以下步驟:T1、在Fin的頂面、第一側壁和第二側壁中形成摻雜層;T2、將惰性元素沿著該襯底的法線方向注入至Fin的頂面中以減小頂面中摻雜元素的劑量。本發(fā)明通過較長時間的離子注入實現(xiàn)注入的飽和,并在側壁完成注入之后增加一道注入的工藝,以實現(xiàn)Fin的均勻摻雜。 |





