漫反射光譜中抑制溫度干擾的方法、光譜分析方法及裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201711473774.6 申請日 -
公開（公告）號 CN109991194A 公開（公告）日 2019-07-09
申請公布號 CN109991194A 申請公布日 2019-07-09
分類號 G01N21/47（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 吳明磊; 劉蓉; 徐可欣 申請（專利權(quán)）人 天津先陽科技發(fā)展有限公司
代理機(jī)構(gòu) 中科專利商標(biāo)代理有限責(zé)任公司 代理人 天津先陽科技發(fā)展有限公司
地址 300192 天津市濱海新區(qū)天津開發(fā)區(qū)第五大街41號B區(qū)五層6號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本公開提供一種漫反射光譜中抑制溫度干擾的方法、光譜分析方法及裝置，包括：確定溫度干擾因素對光譜測量的干擾模式；所述干擾模式包括：源?探測器距離的改變；基于所述干擾模式，確定所述源?探測器距離的特殊值，使漫反射光譜在所述源?探測器距離的特殊值下抑制了溫度干擾因素對光譜測量的干擾。利用溫度不敏感源?探測器距離處不包含溫度干擾的信息，選取溫度不敏感源?探測器距離進(jìn)行漫反射光譜分析可以有效避免溫度變化的干擾，提高分析結(jié)果的可靠性；并且整個過程簡單、方便；同時應(yīng)用范圍廣泛。