一種基于參考標(biāo)定的測(cè)溫方法及裝置

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202011410426.6 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN112665734A 公開（公告）日 2021-04-16
申請(qǐng)公布號(hào) CN112665734A 申請(qǐng)公布日 2021-04-16
分類號(hào) G01J5/52 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 顧宏;沈新華 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 杭州新瀚光電科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 杭州杭誠專利事務(wù)所有限公司 代理人 尉偉敏
地址 311100 浙江省杭州市余杭區(qū)東湖街道紅豐路650號(hào)52幢101室、201室、301室、401室、501室-4
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種基于參考標(biāo)定的測(cè)溫方法及裝置，包括以下步驟：將微面陣測(cè)溫儀的光學(xué)中心與面陣測(cè)溫儀的光學(xué)中心合一；獲取大面陣中每個(gè)與微面陣對(duì)應(yīng)的區(qū)域灰度方差Sx；獲取其中最小方差區(qū)域Sm，以及該區(qū)域的平均灰度Gm；獲取微面陣位置m點(diǎn)的溫度Tm；通過Gm和Tm計(jì)算面陣中每個(gè)像元灰度與溫度的轉(zhuǎn)換參數(shù)Fij；將每個(gè)像元的當(dāng)前灰度換算成溫度值。上述技術(shù)方案將微面陣測(cè)溫儀和大面陣測(cè)溫儀結(jié)合，實(shí)時(shí)將微面陣測(cè)溫儀測(cè)量的目標(biāo)物表面溫度作為面陣測(cè)溫儀的測(cè)量基準(zhǔn)，通過找到大面陣中圖像均勻性最低處，將該處灰度與微面陣對(duì)應(yīng)點(diǎn)的溫度做標(biāo)定，取得大面陣溫度轉(zhuǎn)換的基準(zhǔn)，從而實(shí)現(xiàn)大面陣測(cè)溫儀與微面陣測(cè)溫儀一樣的精度，大大降低了產(chǎn)品的成本。