IF芯片及其數(shù)字補償方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202010255294.8 申請日 -
公開(公告)號 CN111551771A 公開(公告)日 2020-08-18
申請公布號 CN111551771A 申請公布日 2020-08-18
分類號 G01R19/00(2006.01)I 分類 測量;測試;
發(fā)明人 劉陽;楊軍;葉曉斌 申請(專利權)人 垣矽技術(青島)有限公司
代理機構 北京智匯東方知識產(chǎn)權代理事務所(普通合伙) 代理人 劉長江
地址 266109山東省青島市城陽區(qū)春城路614號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供了一種IF芯片及其數(shù)字補償方法。其中IF芯片的數(shù)字補償方法包括:獲取輸入IF芯片的被測電流信號以及由IF芯片的轉換單元對被測電流信號進行轉換得到的實測頻率值;獲取誤差標定值,誤差標定值預先存儲于IF芯片的片內存儲器中;根據(jù)誤差標定值確定被測電流信號對應的頻率補償值;以及使用頻率補償值對實測頻率值進行補償,得到與被測電流信號對應的輸出頻率值。本發(fā)明的方案使得IF芯片的線性度性能大大提升,實現(xiàn)了單一芯片的IF轉換,提高可靠性的同時也極大地降低了成本。??